ichome.comへようこそ!

logo

SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

compliant

SN74BCT8373ADWRE4 価格と注文

単価 外貨価格
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
Inventory changes frequently.
ボムコストダウン
ボムコストダウン
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
名前 価値
製品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with D-Type Latches
供給電圧 4.5V ~ 5.5V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取り付けタイプ Surface Mount
パッケージ/ケース 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ 24-SOIC
PDFの読み込みに失敗しました。新しいウィンドウで開いてアクセスしてみてください。 [開ける], またはクリックして戻る

関連部品番号

SY10EL16VDKI-TR
SY10E116JY-TR
SY10E116JY-TR
$0 $/ピース
SSTUA32866EC/G,557
SSTUA32866EC/G,557
$0 $/ピース
SSTVA16859AKLF
74SSTUA32866BFG
SN74STV16857DGGRG4
SN74LS181NG4
SN74LS181NG4
$0 $/ピース
74GTLP22034DGGRE4
MM74C908N
MM74C908N
$0 $/ピース
SY100S815ZH-TR

エレクトロニクス分野の信頼できるパートナー

お客様の期待を上回ることに専念。 IChome: エレクトロニクス業界向けに再定義されたカスタマー サービス。