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SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

SOT-23

非準拠

SN74BCT8374ADWR 価格と注文

単価 外貨価格
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
ボムコストダウン
ボムコストダウン
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
名前 価値
製品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供給電圧 4.5V ~ 5.5V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取り付けタイプ Surface Mount
パッケージ/ケース 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ 24-SOIC
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関連部品番号

CD40117BMT
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SSTUA32864EC/G,551
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