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SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

SOT-23

非準拠

SN74BCT8374ANT 価格と注文

単価 外貨価格
1 $4.13000 $4.13
500 $4.0887 $2044.35
1000 $4.0474 $4047.4
1500 $4.0061 $6009.15
2000 $3.9648 $7929.6
2500 $3.9235 $9808.75
825 items
ボムコストダウン
ボムコストダウン
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
名前 価値
製品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供給電圧 4.5V ~ 5.5V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取り付けタイプ Through Hole
パッケージ/ケース 24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤーデバイスパッケージ 24-PDIP
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関連部品番号

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74ABT899A,623
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74AUP1Z04GW/C125
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