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SN74LVTH18502APMG4

SN74LVTH18502APMG4

SN74LVTH18502APMG4

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SOT-23

非準拠

SN74LVTH18502APMG4 価格と注文

単価 外貨価格
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
ボムコストダウン
ボムコストダウン
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
名前 価値
製品ステータス Obsolete
ロジックタイプ ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
供給電圧 2.7V ~ 3.6V
ビット数 18
動作温度 -40°C ~ 85°C
取り付けタイプ Surface Mount
パッケージ/ケース 64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ 64-LQFP (10x10)
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関連部品番号

SN74ABT8646DWRE4
SN74ABT8646DWRE4
$0 $/ピース
SY54016ARMG-TR
SY10EL16VZC
SY10EL16VZC
$0 $/ピース
SY10EP16VZG-TR
74F182SJX
74F182SJX
$0 $/ピース
74SSTUBF32869ABKG
SY100EL16VOKG-TR
SY100EL16VSKI-TR
SSTU32866EC/G,551
SSTU32866EC/G,551
$0 $/ピース

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