ichome.comへようこそ!

logo

SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

compliant

SN74BCT8374ADWRG4 価格と注文

単価 外貨価格
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
Inventory changes frequently.
ボムコストダウン
ボムコストダウン
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
注文の大小を問わず、あらゆる注文に卸売価格
名前 価値
製品ステータス Obsolete
ロジックタイプ Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供給電圧 4.5V ~ 5.5V
ビット数 8
動作温度 0°C ~ 70°C
取り付けタイプ Surface Mount
パッケージ/ケース 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ 24-SOIC
PDFの読み込みに失敗しました。新しいウィンドウで開いてアクセスしてみてください。 [開ける], またはクリックして戻る

関連部品番号

SSTV16857DGV,112
SSTV16857DGV,112
$0 $/ピース
SY10EL16VBZC
SY10EL16VBZC
$0 $/ピース
SY10EL16VFKI-TR
SSTUH32865ET,551
SSTUH32865ET,551
$0 $/ピース
SY100EL16VAZI-TR
SN74LVTH18502APMG4
SN74ABT8646DWRE4
SN74ABT8646DWRE4
$0 $/ピース
SY54016ARMG-TR

エレクトロニクス分野の信頼できるパートナー

お客様の期待を上回ることに専念。 IChome: エレクトロニクス業界向けに再定義されたカスタマー サービス。